نسل جدید HALT و HASS Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems
- نوع فایل : کتاب
- زبان : انگلیسی
- نویسنده : Kirk A. Gray, John J. Paschkewitz
- ناشر : Wiley
- چاپ و سال / کشور: 2016
- تعداد صفحه : 296
- شابک / ISBN : 9781118700235
توضیحات
کتاب «نسل جدید HALT و HASS» یک جابجایی پارادایم بزرگ از روش‌های قابل اعتماد مبتنی بر پیش‌بینی تا کشف ریسک‌های قابلیت اطمینان سیستم‌های الکترونیک را ارائه می‌دهد.
این کتاب حاصل یکپارچه‌سازی آزمایش HALT و HASS با محصول قوی مبتنی بر فیزیک شکست و متدلوژی توسعه فرآیند می‌باشد.
از ویژگی‌های کتاب «نسل جدید HALT و HASS» می‌توان به موارد زیر اشاره کرد:
ارائه یک پایه شفاف برای حرکت از مدل‌های پیش‌بینی قابلیت اطمینان آماری تا روش‌های عملی ضمانت و بهبود قابلیت اطمینان. چالش‌های موجود روش‌های پیش‌بینی شکست با توجه ویژه بر محدودیت‌های آنها با استفاده از داده‌های میدانی واقعی
شرح یک رویکرد کاربردی برای چرایی و چگونگی استفاده از HALT و HASS در سیستم‌های الکترونیکی و الکترومکانیکی
راهنمای مهندسان و مدیران درزمینه مزایای روش‌های قطعی و کارآمدتر HALT و HASS
و بسیاری موارد دیگر
این کتاب حاصل یکپارچه‌سازی آزمایش HALT و HASS با محصول قوی مبتنی بر فیزیک شکست و متدلوژی توسعه فرآیند می‌باشد.
از ویژگی‌های کتاب «نسل جدید HALT و HASS» می‌توان به موارد زیر اشاره کرد:
ارائه یک پایه شفاف برای حرکت از مدل‌های پیش‌بینی قابلیت اطمینان آماری تا روش‌های عملی ضمانت و بهبود قابلیت اطمینان. چالش‌های موجود روش‌های پیش‌بینی شکست با توجه ویژه بر محدودیت‌های آنها با استفاده از داده‌های میدانی واقعی
شرح یک رویکرد کاربردی برای چرایی و چگونگی استفاده از HALT و HASS در سیستم‌های الکترونیکی و الکترومکانیکی
راهنمای مهندسان و مدیران درزمینه مزایای روش‌های قطعی و کارآمدتر HALT و HASS
و بسیاری موارد دیگر
