نقص اتهام نیمه هادی: ساختار، ترمودینامیک و انتشار / Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion

نقص اتهام نیمه هادی: ساختار، ترمودینامیک و انتشار Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion

  • نوع فایل : کتاب
  • زبان : انگلیسی
  • نویسنده : Edmund G. Seebauer ,Meredith C. Kratzer (auth.)
  • ناشر : Springer-Verlag London
  • چاپ و سال / کشور: 2009
  • شابک / ISBN : 978-1-84882-058-6, 978-1-84882-059-3
اگر شما نسبت به این اثر یا عنوان محق هستید، لطفا از طریق "بخش تماس با ما" با ما تماس بگیرید و برای اطلاعات بیشتر، صفحه قوانین و مقررات را مطالعه نمایید.

دیدگاه کاربران


لطفا در این قسمت فقط نظر شخصی در مورد این عنوان را وارد نمایید و در صورتیکه مشکلی با دانلود یا استفاده از این فایل دارید در صفحه کاربری تیکت ثبت کنید.

بارگزاری